Power Tester功率循環(huán)及熱測試平臺
一、產(chǎn)品概述
先進的測試理念:同一個測試平臺可以同時進行功率循環(huán)和熱測試,任何與老化降級相關(guān)的熱效應(yīng)都可以在不移動待測器件的情況下通過結(jié)構(gòu)函數(shù)在線監(jiān)測,與傳統(tǒng)的老練設(shè)備相比更加節(jié)省時間,能獲得完整的失效數(shù)據(jù)。
先進的測試技術(shù):熱測試設(shè)備T3Ster的熱瞬態(tài)測試技術(shù)及結(jié)構(gòu)函數(shù)分析方法。
測試范圍廣:可測試MOSFET, IGBT以及二極管等器件。
簡單易用的觸摸屏界面:Power Tester 在功率循環(huán)測試期間能夠記錄包括電流、電壓、溫度、結(jié)構(gòu)函數(shù)等信息在內(nèi)的參數(shù)。
多種功率循環(huán)模式:Power Tester 包含了恒定時間Ton和Toff,恒定電流,恒定殼溫變化ΔTC,恒定結(jié)溫變化ΔTJ以及恒定功率變化ΔP等模式。
實時結(jié)構(gòu)函數(shù)診斷:方便用戶快速地獲得循環(huán)過程中的缺陷,對應(yīng)的循環(huán)數(shù)以及失效原因等。
無需功率循環(huán)后的實驗室檢測及破壞性失效分析:無需再使用傳統(tǒng)的x射線、超聲波或者其他的破壞性方法來進行失效分析。
測試操作簡便:用戶只需根據(jù)系統(tǒng)提示將器件對應(yīng)管腳連接到設(shè)備,無需了解復(fù)雜的測試電路。
幫助用戶設(shè)計更加可靠的電子封裝產(chǎn)品:Power Tester提供的特性化測試數(shù)據(jù),可以直接導(dǎo)出給熱仿真軟件FloTHERM,利用實測結(jié)果來實現(xiàn)模型自動校準(zhǔn)功能,幫助用戶得到精確的,符合實際的仿真模型。
預(yù)估器件壽命:幫助用戶獲得功率電子器件在真實應(yīng)用條件下的使用壽命。
二、產(chǎn)品信息
PWT 1500A/1800A/3600A PWT 600A PWT2400A
1、產(chǎn)品型號
型號 |
1500A 3C 12C |
PWT 1800A 12C 12V |
PWT 3600A 12C 6V |
PWT 600A 16C 48V |
2400A 16C12V |
加熱通道數(shù) | 3 | 3 | 3 | 2 | 4 |
最大輸出電流 |
500A * 3 |
600A *3 |
1200A *3 |
300A*2 |
600A*4 |
最大輸出電壓 |
8V |
12V |
6V |
48V |
12V |
測試通道數(shù) |
3/12(3*4) |
12(3*4) |
12(3*4) | 16(2*8) | 16(4*4) |
測試電流源 |
3 |
3 |
3 |
2 |
4 |
外部PT100連接器 | 3 | 3 | 3 | 16 | 16 |
是否含有液冷板,流量控制器 |
是 | 是 | 是 | 否 | 否 |
PWT 1500 功率輸出模塊示例
2、測試模塊
熱瞬態(tài)測試通道 | 柵極電流I(g,off)監(jiān)測通道 |
內(nèi)置T3Ster技術(shù),瞬態(tài)采樣率最快1μs, 可在功率循環(huán)期間定期生成結(jié)構(gòu)函數(shù) |
測試范圍:250 pA.. 100μA |
3.溫度探測器
1、每塊液冷板的出水口和中心位置各有一個pt100探測器
2、額外預(yù)置了三個溫度傳感器接口,可利用其測試任意位置的溫度。用戶需自行提供傳感器,支持負溫度系數(shù)傳感器或熱電偶。
4、冷板
1)左板
用于K-系數(shù)測試
需要外部的溫控循環(huán)設(shè)備(推薦Julabo)
2)右板
用于功率循環(huán)
需要外部的冷水機或者循環(huán)水
可配置冷卻液流量 (手動)
3)樣品固定夾具
每塊冷板上配備有可移動的導(dǎo)軌,導(dǎo)軌上有壓緊桿。
可以將器件固定在冷板上任意位置.
4)液體泄漏保護
內(nèi)嵌液體探測器,配備泄漏排水管
5)通過T型閥門,支持第三方冷板
5、安全設(shè)計
1)一體化實驗箱設(shè)計
2)透明的Lexan保護罩方便目測,防止測試期間受外界干擾
3)自動探測保護罩是否打開大電流僅在保護罩關(guān)閉的情況下才允許開起防止被高溫金屬燙
4)煙霧探測器 系統(tǒng)將會緊急停止一旦探測到煙霧
5)液體泄漏探測器 系統(tǒng)將會緊急停止一旦探測到液體泄漏
6)系統(tǒng)狀態(tài)燈塔
7)緊急停止按鈕
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6、計算機配置
1)內(nèi)嵌控制PC高可靠性工控機& 自帶操作系統(tǒng)保證長時間工作的穩(wěn)定性
2)觸摸屏操作不需要鼠標(biāo)或鍵盤
3)為PC專門提供UPS,保證緊急斷電或其他情況下的數(shù)據(jù)安全
三、測試模式及測試原理
1、全新測試模式:同時進行功率循環(huán)和熱測試模式
? 利用功率循環(huán)對待測器件施加老化應(yīng)力
? 根據(jù)器件達到失效的循環(huán)數(shù)預(yù)估其壽命
? 功率循環(huán)期間定期進行熱瞬態(tài)測試,并監(jiān)控系統(tǒng)參數(shù)
? 功率循環(huán)期間,任何與老化降級相關(guān)的熱效應(yīng)都可以在不移動待測器件的情況下通過結(jié)構(gòu)函數(shù)在線監(jiān)測
? 系統(tǒng)會根據(jù)用戶提前設(shè)定的條件增加熱瞬態(tài)測試的頻率
2、熱瞬態(tài)測試:用于測試待測器件的結(jié)溫,熱阻,并進行結(jié)構(gòu)函數(shù)分析
– 遵循JEDEC JESD 51-1 靜態(tài)測試法
– 遵循IEC 60747的測試方法
– 利用結(jié)構(gòu)函數(shù)分析散熱路徑的熱傳導(dǎo)結(jié)構(gòu)
– 支持利用JEDEC JESD 51-14標(biāo)準(zhǔn)定義的瞬態(tài)熱界面法測試結(jié)殼熱阻RthJC
1)k系數(shù)測試
2)熱測試
– 通入工作功率,使結(jié)溫在特定的散熱環(huán)境下升高達到飽和。
– 將工作功率快速切換到進行k系數(shù)測試時的測試電流。
– 在結(jié)溫下降過程中,實時采集pn結(jié)電壓,再通過K系數(shù)得到結(jié)點的降溫曲線,采樣間隔最快為1us。
3)結(jié)構(gòu)函數(shù)分析——描述器件熱傳導(dǎo)路徑的模型
? 結(jié)構(gòu)函數(shù)上越靠近y軸的地方代表著實際熱流傳導(dǎo)路徑上接近芯片有源區(qū)的結(jié)構(gòu),而越遠離y軸的地方代表著熱流傳導(dǎo)路徑上離有源區(qū)較遠的結(jié)構(gòu)。
? 積分結(jié)構(gòu)函數(shù)是熱容—熱阻函數(shù),曲線上平坦的區(qū)域代表器件內(nèi)部熱阻大、熱容小的結(jié)構(gòu),陡峭的區(qū)域代表器件內(nèi)部熱阻小、熱容大的結(jié)構(gòu)。
? 在結(jié)構(gòu)函數(shù)的末端,其值趨向于一條垂直的漸近線,此時代表熱流傳導(dǎo)到了空氣層,由于空氣的體積無窮大,因此熱容也就無窮大。從原點到這條漸近線之間的x值就是結(jié)區(qū)到空氣環(huán)境的熱阻,也就是穩(wěn)態(tài)情況下的熱阻Rja 。
3、功率循環(huán)測試
1)功率循環(huán)模式
在功率循環(huán)過程中,提供各種不同的功率模式,包括:
– 恒定電流
– 恒定殼溫的變化ΔTC
– 恒定結(jié)溫的變化ΔTJ
– 恒定功率的變化ΔP
2)、功率循環(huán)功能
– 功率循環(huán)期間,記錄的數(shù)據(jù)包括:
電學(xué)參數(shù):UCE ,柵極電流I(g,off), ΔP等
熱學(xué)參數(shù) :ΔTJ , Tjmax, Tjmin,, ΔTJ / ΔP,Rth以及結(jié)構(gòu)函數(shù)等
電學(xué)參數(shù)記錄
熱學(xué)參數(shù)記錄
功率循環(huán)信息記錄
四、測試流程
1、創(chuàng)建器件并定義器件參數(shù)
(1)定義器件種類并選擇測試方法。系統(tǒng)會根據(jù)用戶的選擇自動切換不同的接線方式
(2 ) 系統(tǒng)會根據(jù)用戶的選擇自動切換不同的接線方式,即使非電子專業(yè)背景的操作人員也能夠按照標(biāo)準(zhǔn)定義的測試方法對器件進行測試。
創(chuàng)建器件
(2)、設(shè)置k系數(shù)測試參數(shù)
用戶可設(shè)置測試電流,柵壓,溫度范圍以及溫度穩(wěn)定判據(jù)
器件定標(biāo)參數(shù)設(shè)置
2、 熱測試
設(shè)置熱測試的參數(shù),用戶可自定義測試時間,也可以使用自動熱穩(wěn)態(tài)判定。由系統(tǒng)自動識別器件是否達到熱穩(wěn)定狀態(tài)。
3、 功率循環(huán)測試
(1) 設(shè)置功率參數(shù),包括熱測試加熱電流,功率循環(huán)電流等
功率參數(shù)設(shè)置
(2) 設(shè)置測試參數(shù)
設(shè)置熱測試間隔時間,柵極電流測試間隔時間等。
測試參數(shù)設(shè)置
用戶可提前預(yù)設(shè)電壓,結(jié)溫,電流等參數(shù),當(dāng)該指標(biāo)達到一定條件后,可以自動更改熱測試間隔。
自動測試間隔設(shè)置
(3) 設(shè)置功率循環(huán)參數(shù)
選擇功率循環(huán)模式,設(shè)置on和off的時間以及最大功率循環(huán)數(shù)等參數(shù)
設(shè)置功率循環(huán)參數(shù)
(4) 設(shè)置失效判據(jù)
用戶可通過絕對值或者百分比的方式設(shè)置器件失效的判據(jù),當(dāng)器件參數(shù)達到失效判據(jù),功率循環(huán)將停止。
設(shè)置失效判據(jù)
(5)設(shè)置液冷板的水流量
設(shè)置水流量